Analisis Parameter Struktur pada Reduced Graphene Oxide dari Tempurung Kelapa Menggunakan Metode Scherrer dan Williamson-Hall

INDONESIA:

Penelitian ini dilakukan untuk menganalisis parameter struktur kristal dari hasil karakterisasi XRD pada material reduced graphene oxide (rGO) dari tempurung kelapa. Analisis yang dilakukan berupa penentuan ukuran kristal menggunakan persamaan Scherrer dan Scherrer termodifikasi. Sedangkan dalam persamaan Williamson-Hall digunakan untuk menganalisis ukuran kristal dan regangan kisi. Pada persamaan Scherrer diperoleh Dave = 1,2494582646 nm untuk sampel rGO TM dan Dave = 0,5413714162 nm untuk sampel rGO m40. Sedangkan persamaan Scherrer termodifikasi diperoleh D= 1,2518368913 nm untuk rGO TM dan D= 1,2372896677 nm untuk rGO m40. Hasil ukuran kristal menggunakan persamaan Williamson-Hall menunjukkan nilai yang lebih besar daripada menggunakan persamaan Scherrer dengan D= 1,683102695 nm untuk rGO TM dan D= 2,548786765 nm untuk rGO m40 yang mana hasil tersebut melibatkan nilai regangan kisi yang diperoleh ɛ= 0,2206 untuk rGO TM dan ɛ= 0,134 untuk rGO m40. Penelitian ini juga dilakukan analisis Rietveld menggunakan software Rietica. Hasil keluaran dari software Rietica diperoleh nilai parameter kisi a ≠ b ≠ c dan sudut α = β = γ = 90° yang menyatakan struktur kisi kristal berbentuk ortorombik. Dalam proses refinement software Rietica berpengaruh pada parameter kesesuaian berupa nilai indikator R dan GOF. Penelitian ini juga membahas pengaruhnya terhadap sifat listrik material rGO berupa nilai konduktivitas listrik.