Rancang bangun pendeteksi Cacat Mikro dengan memanfaatkan Sistem Optik Pick-Up Compact Disk

ABSTRAK

Kecacatan suatu permukaaan bahan optis yang bersifat makro atau mikro sangat sulit ditemukan secara langsung tanpa adanya sistem pendeteksian secara khusus. Dalam Al-Qur’an surat Yunus ayat 61, menjelaskan penciptaan alam semesta tidak ada yang menyerupai, lebih kecil atau lebih besar dari apa yang diciptakan-Nya dan tidak pula ada kekurangan ataupun kecacatan. Hal ini membuktikan bahwa secanggih apapun alat yang dibuat oleh manusia tidak ada kesulitan untuk selalu memperbaruinya, begitu juga kecacatan permukaan suatu lapisan, sekecil apapun kecacatan akan dapat diteliti dan dideteksi. Penelitian ini dilakukan dengan tujuan membuat alat pendeteksi kecacatan dengan memanfaatkan sistem optik pick-up compact disk dan menentukan tingkat akurasi alat.

Alat ukur ini terdiri dari 2 sistem, yaitu sistem optik dan sistem elektronik. Sistem optik terdiri dari laser sebagai sumber cahaya, beam splitter (dengan ukuran 50:50), motor DC sebagai penggerak sampel, serta photodioda sebagai sensor cahaya. Sedangkan sistem elektronik meliputi, ADC0809, MCU AT89S51, serta LCD sebagai display penampil. Sampel yang digunakan sebanyak 10 sampel dengan nilai kecacatan permukaan antara 0–10mm Pembuatan sampel dilakukan dengan membuat beberapa nilai kecacatan secara manual.

Prinsip kerja alat adalah cahaya dari laser akan melewati beam splitter, sebagian cahaya akan dipantulkan oleh cermin datar, sebagian ditransmisikan ke photodioda oleh obyek melalui beam splitter. Perpaduan 2gelombang cahaya tersebut akan diteruskan kephotodioda. kemudian direspon ADC dan diproses oleh MCU-S51, hasilnya ditampilkan melalui LCD. Pengambilan data pada sistem elektronik dilakukan dengan memberikan tegangan variabel pada sistem dan diamati tegangan keluarannya. Sedangkan pengambilan data untuk sistem keseluruhan dilakukan pengukuran dengan mencacati sampel secara manual kemudian diukur dengan alat pengukur nilai kecacatan dengan alat yang dibuat.

Analisis data untuk sistem elektronik dilakukan dengan mencari prosentase penyimpangan rata-rata pada data hasil pengujian. Untuk analisis data pada sistem keseluruhan dilakukan dengan mencari prosentase kesalahan relatif (KR) rata-rata pada data hasil pengujian. Data hasil pengujian pada sistem elektronik menunjukkan prosentase penyimpangannya sebesar 3,8%. Sedangkan hasil pengujian sistem keseluruhan sebesar 13,19% untuk permukaan mengkilap dan 7,12% untuk permukaan yang tidak mengkilap.

ABSTRACT

Optical defects of a surface material that is macro or micro is very difficult was found directly. Especially without any particular detection system. In the Qur'an Yunus: 61, explaining the creation of the universe resembles nothing, smaller or bigger than what he created, nor any shortage or disability. It is proven that any sophisticated tools made by human beings there is no difficulty always to update it, as well as a surface defect layer, the slightest defect will be investigated and detected. This research was conducted with the aim of making defect- detection equipment by utilizing the optical pick-up system of compact disks and determine the accuracy of the appliance.

This instrument consists of 2 system, optical and electronic systems. Optical system consists of a laser as a light source, beam splitter (size 50-50), DC motor as the sample, as well as a light sensor photodioda. While electronic systems include, ADC 0809, MCU AT89S51, and display LCD viewer. Samples used as many as 10 samples with values between 0-10mm Production samples was done by making some disability values manually.

The working principle of the laser device is the light will pass through the beam splitter, some light will be reflected by plane mirrors, in part transmitted to photodioda by an object through a beam splitter. Combination of two light waves will be forwarded photodioda. then responded to the ADC and processed by the MCU-S51, the result is displayed via LCD. Data collection from electronic system is done by giving variable voltage on system and watching the output voltage. While collecting data for the entire system was measured by manually truncate the sample and then gauge the value measured with disabilities with the tools mode.

Data analysis for electronic system is done by seeking out the percentage of average deviation on the result data of examination. And data analysis of the hole system is done by seeking out percentage of the average relative misscalculate on the result data of examination. The result data of examination on electronic system indicate that percentage of deviation is 3,8%. Whereas result of examination on the hole system is 13,19% for glossy surfaces and 7,12% for surfaces that are not shiny.